Новости

Завершено обучение преподавателей Уфимского государственного авиационного технического университета (УГАТУ) по программе повышения квалификации «Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ».

Обучение проводили преподаватели учебно-научного центра НИТУ «МИСиС» «Международная школа микроскопии» (директор Жуков Дмитрий Геннадьевич).

В курсе использовался растровый электронный микроскоп JEOL JSM 6610LV от японской компании Tokyo Boeki производства JEOL Inc., а также специализированный компьютерный класс.

Преподаватели УГАТУ поставили высшие оценки проведенному обучению, отметили следующее:

·        заведующий кафедрой, профессор Мигранов Марс Шарифуллович: «Грамотно, содержательно, насыщенно»;

·        профессор Шехтман Семен Романович: «Познавательность, хорошее изложение материала»;

·        старший преподаватель Ахметшин Рустам Ильясович: «Современное оборудование, профессиональные преподаватели,  микроскопы разных моделей».